TranCT-215 可用于光链路传输损耗进行测量，具有超高的损耗测试动态范围和灵敏度，超高的空间分辨率和损耗定位精度。该系统可选配光纤传感功能软件，从而使该系统实现多通道同时采集、分布式光纤应变及温度测量功能。
我们能够为客户提供系统搭建硬件清单、软件算法及源代码、系统调试及验证等全套的技术解决方案。
测试长度最长50m
空间分辨率高达20um
回损测试灵敏度可达-130dB
回损测试动态范围80dB
插损测试动态范围15dB
可提供全套硬、软件解决方案
光子芯片传输损耗测量
芯片内损耗事件定位分析
芯片内光链路延时测量
光链路损耗分析
分布式光纤应变、温度传感
3D光纤形状传感系统研发
技术指标 | 单位 | TranCT-215 |
损耗测试功能 | ||
中心波长 | nm | 1550 |
扫描范围 | nm | 40 |
波长精度 | pm | 0.1 |
光链路测试长度 | m | 50 |
空间分辨率 | um | 20 |
回损测量范围 | dB | 0~-125 |
回损灵敏度 | dB | -130 |
回损动态范围 | dB | 80 |
回损测量分辨率 | dB | 0.1 |
回损测量精度 | dB | ±0.5 |
插损动态范围 | dB | 15 |
插损分辨率 | dB | 0.1 |
插损精度 | dB | ±0.2 |
测试频率 | Hz | 1 |
传感测试功能 | ||
空间分辨率 | mm | 1@50m，10@100m |
应变测量范围 | uɛ | ±15000 |
应变测量精度 | uɛ | ±5 |
温度测量范围 | ℃ | -200~1200 |
温度测量精度 | ℃ | ±0.2 |
测试通道数 | - | 标准1，可定制 |
单次测试时间 | s | 5 |
鄂公网安备 42010202002775号
